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原子力超分辨荧光显微镜
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原子力超分辨荧光显微镜

原子力显微镜（AFM）是一种高空间分辨率的形貌成像技术，并能进行力学研究，但AFM难以提供分子种类信息。根据STORM和AFM各自的优缺点，提出一种新型的超分辨荧光和形貌显微镜（AFM-STORM）联用技术，同步实现超高分辨的荧光和形貌成像。

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  • 原子力超分辨荧光显微镜性能特点：

    1、倒置显微镜联用样品台：样品基座可以容纳显微镜基片，petri盘或其他透明样品，高倍孔阑可以在Petric盘底部使用，样品手动定位范围 XY：12x12 mm；
    2、AFM相对光学显微镜中心可调整范围：1x1 mm；
    3、测量模式：静态力模式、横向力模式、动态力模式；
    4、谱线测量模式：力与距离曲线，振幅–距离曲线，电压–距离曲线；
    5、方便地更换探针，更换探针后无需手动调节激光，激光自动定位，极大方便客户操作；
    6、样点数最大8000 X 8000；
    7、XY斜率补偿功能：硬件补偿，保证样品倾斜的准确测量。
    8、同时具有单分子定位超分辨成像功能。










    原子力显微镜（AFM）工作原理及成像示意图

    原子力超分辨荧光显微镜性能特点：

    1、倒置显微镜联用样品台：样品基座可以容纳显微镜基片，petri盘或其他透明样品，高倍孔阑可以在Petric盘底部使用，样品手动定位范围 XY：12x12 mm；
    2、AFM相对光学显微镜中心可调整范围：1x1 mm；
    3、测量模式：静态力模式、横向力模式、动态力模式；
    4、谱线测量模式：力与距离曲线，振幅–距离曲线，电压–距离曲线；
    5、方便地更换探针，更换探针后无需手动调节激光，激光自动定位，极大方便客户操作；
    6、样点数最大8000 X 8000；
    7、XY斜率补偿功能：硬件补偿，保证样品倾斜的准确测量。
    8、同时具有单分子定位超分辨成像功能。










    原子力显微镜（AFM）工作原理及成像示意图

  • 联用系统成像范围：
    50 mm×50 mm
    AFM显微镜分辨率：
    横向分辨率为 10 nm 垂直分辨率为 0.1 nm
    STORM 成像分辨率：
    20nm
    AFM显微镜采集速度：
    ＜60s @ 128 point / line
    AFM最大可测样品深度：
    6mm
    AFM扫描范围：
    不小于100um×100um×10um
    AFM测量头尺寸：
    143mm×158mm×53mm
    AFM测量头重量：
    1.25kg
    联用样品台行程：
    12mm×12mm
  • 1、微视产品手册.pptx
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