SIM超分辨显微镜（HM-SIM-01）

产品介绍

SIM即结构光照明，利用特定结构的照明光在成像过程中把位于光学传递函数范围外的一部分高频信息“搬运”到低频区域,在成像系统捕捉到样品原有的低频信息和经过“搬运”后的高频信息之后，再利用特定算法将范围内的高频信息“还原”到原始位置，从而扩展通过显微系统的样品频域信息，使得重构图像的分辨率超越衍射极限的限制。SIM成像速度快、样本损伤低，主要用于快速成像，分辨率达到100nm。