原子力显微镜（AFM）是一种高空间分辨率的形貌成像技术，并能进行力学研究，但AFM难以提供分子种类信息。根据STORM和AFM各自的优缺点，提出一种新型的超分辨荧光和形貌显微镜（AFM-STORM）联用技术，同步实现超高分辨的荧光和形貌成像。
· 联用系统成像范围:50 mm×50 mm
· AFM显微镜分辨率:横向分辨率为 10 nm 垂直分辨率为 0.1 nm
· STORM 成像分辨率:20nm
· AFM显微镜采集速度:＜60s @ 128 point / line
· AFM最大可测样品深度：6mm
· AFM扫描范围:不小于100mm×100mm×10mm
· AFM测量头尺寸:143mm×158mm×53mm
· AFM测量头重量:1.25kg
· 联用样品台行程:12mm×12mm
（AFM）工作原理及成像示意图
· 联用系统成像范围:50 mm×50 mm
· AFM显微镜分辨率:横向分辨率为 10 nm 垂直分辨率为 0.1 nm
· STORM 成像分辨率:20nm
· AFM显微镜采集速度:＜60s @ 128 point / line
· AFM最大可测样品深度：6mm
· AFM扫描范围:不小于100mm×100mm×10mm
· AFM测量头尺寸:143mm×158mm×53mm
· AFM测量头重量:1.25kg
· 联用样品台行程:12mm×12mm
（AFM）工作原理及成像示意图
粤ICP备2022117303号
